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HgInTe晶体的生长及其性能研究
  • 期刊名称:功能材料, 2007, 38 (6): 870-871
  • 时间:0
  • 分类:O782[理学—晶体学] TN304.2[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]西北工业大学凝固技术国家重点实验室,陕西西安710072
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(50336040);西北工业大学博士创新基金资助项目(CX200606);西北工业大学研究生种子基金资助项目(200612)
  • 相关项目:化合物半导体晶体生长与缺陷控制的热物理问题
中文摘要:

利用垂直Bridgman法生长了HginTe单晶体,并采用X射线衍射分析、FT—IR光谱分析对晶体的形态结构及红外透过性能进行了检测,结果表明所生长的晶体是高质量的单相完整单晶体,其在400~4000cm^-1范围内的红外透过性能较好,达到50%~55%,晶体对红外光的吸收主要为晶格吸收和自由载流子吸收引起的。

英文摘要:

HgInTe single-crystal has been grown by vertical Bridgman method and was investigated by means of X-ray analysis and FT-IR. The results showed that the as-grown crystal was single-phase crystal with high quality. The infrared transmittance in the middle and far infrared region was about 50%-55%. The absorption of the crystal to the infrared light was mainly lattice absorption and free carriers absorption.

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