欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
An Improvement on the Junction Temperature Measurement of Light-Emitting Diodes by using the Peak Sh
ISSN号:0256-307X
期刊名称:CHINESE PHYSICS LETTERS
时间:2012.12.12
页码:127802-
相关项目:基于量子效应的探测光电信号放大机理研究
作者:
Zhang Bo|Fu Lei|Fu Lei|Cheng Li-Wen|Cheng Li-Wen|Wang Jin-Bin|Wang Jin-Bin|Lu Wei|Lu Wei|
同期刊论文项目
基于量子效应的探测光电信号放大机理研究
期刊论文 65
同项目期刊论文
Droop improvement in blue InGaN/GaN multiple quantum well light-emitting diodes with indium graded l
An intermediate-band-assisted avalanche multiplication in InAs/InGaAs quantum dots-in-well infrared
Origin of the redshift of the luminescence peak in InGaN light-emitting diodes exposed to Co-60 gamm
离子束溅射Ge量子点的应变调制生长
离子束溅射自组装Ge/Si量子点生长的演变
绝缘氧化层上自离子注入Si薄膜W线发光性能的调控
Dielectric measurements via a phase-resolved spintronic technique
Evolution of self-assembled Ge/Si island grown by ion beam sputtering deposition
束流密度对Ge/Si量子点溅射生长的影响
斜切基片上溅射生长高密度小尺寸Ge纳米点的研究
The optical coupling improvement of THz quantum well infrared photodetectors based on the plasmonic
Simulation of InGaN/GaN light-emitting diodes with a non-local quantum well transport model
Efficiency enhancement of blue InGaN/GaN light-emitting diodes with an AlGaN-GaN-AlGaN electron bloc
Measurements of I-V characteristic in InAs/InP quantum dot laser diode
Sources of carrier compensation in arsenic-doped HgCdTe
Quality of epitaxial InAs nanowires controlled by catalyst size in molecular beam epitaxy
温度对绝缘层上应变SiGe沟道p-MOSFET电学特性的影响
埋层应变对溅射生长 Ge 量子点的影响
渐变带隙氢化非晶硅锗薄膜太阳能电池的优化设计
SiGe∶H薄膜太阳能电池研究进展
Ge纳米粒子制备技术的研究进展
甚长波量子阱红外探测器中的双激发态工作机理
Room temperature quantum cascade detector operating at 4.3μm
采用InGaP和InAlP作为虚衬底的张应变Ge薄膜的材料性质比较
溅射气压对Ge/Si纳米点表面形貌的影响
Ge/Si量子点的控制生长
Improvement of blue InGaN light-emitting diodes with gradually increased barrier heights from n- to p-layers
两步法溅射中缓冲层厚度对Ge薄膜质量的影响
镶嵌在SiO_2基体中SiC纳米晶的紫外光致发光
热退火诱导C^+注入Si晶体的蓝光发射
期刊信息
《中国物理快报:英文版》
中国科技核心期刊
主管单位:中国科学院
主办单位:中国科学院物理研究所、中国物理学会
主编:
地址:北京中关村中国科学院物理研究所内(北京603信箱《中国物理快报》编辑部)
邮编:100080
邮箱:cpl@aphy.iphy.ac.cn
电话:010-82649490 82649024
国际标准刊号:ISSN:0256-307X
国内统一刊号:ISSN:11-1959/O4
邮发代号:
获奖情况:
中国期刊方阵“双高”期刊
国内外数据库收录:
美国化学文摘(网络版),美国数学评论(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国剑桥科学文摘,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,英国英国皇家化学学会文摘
被引量:190