位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Single-event burnout hardening of power umosfets with integrated schottky diode
  • ISSN号:0018-9383
  • 期刊名称:IEEE Transactions on Electron Devices
  • 时间:2014
  • 页码:1464-1469
  • 相关项目:基于MIMO的多波段脉冲超宽带传输新方法与信道模型研究
同期刊论文项目
同项目期刊论文