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XPS-AES联用技术对Pt-Co,Cu-Au和Cu-Ag合金薄膜的定量表征方法研究
  • ISSN号:1000-0593
  • 期刊名称:《光谱学与光谱分析》
  • 时间:0
  • 分类:O657.62[理学—分析化学;理学—化学]
  • 作者机构:[1]中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050
  • 相关基金:国家重点基础研究发展计划(973)项目(2012CB720900)和中国科学院仪器设备功能开发技术创新项目(Y17YQ1110G)资助
中文摘要:

俄歇电子能谱(AES)在表面微区元素分析方面优势明显,但是受基体效应的影响,其定量分析,特别是非单质材料表面元素含量分析的准确度差,x射线光电子能谱(XPS)的定量分析准确度较高。为了降低AES定量分析的误差,将XPS和AES两种分析技术联用,选择Pt-Co,Cu-Au和Cu-Ag三种二元合金样品进行了研究,利用样品的XPS定量分析结果对AES的定量分析所用相对灵敏度因子进行修正,将修正后的相对灵敏度因子用于其他不同组分比的样品的定量分析,以验证其分析准确性。结果表明,修正后的灵敏度因子在用于AES定量分析时相对误差明显降低,分析相对误差小于10%。为了解决AES定量分析在积分谱处理形式下选峰困难的问题,将积分谱进行微分化处理,并修正了微分谱的处理形式下的相对灵敏度因子,AES的定量分析相对误差降低到小于9%,表明在两种处理形式下都能得到较为准确的定量结果。修正后的相对灵敏度因子包含了基体效应尤其是背散射效应的影响,从而有助于降低AES定量分析的误差。说明借助XPS提高AES定量分析准确度的研究方法具有一定的可行性。

英文摘要:

In order to improve the quantitative analysis accuracy of AES, We associated XPS with AES and studied the method, to reduce the error of AES quantitative analysis, selected Pt-Co, Cu-Au and Cu-Ag binary alloy thin-films as the samples, used XPS to correct AES quantitative analysis results by changing the auger sensitivity factors to make their quantitative analysis re- sults more similar. Then we verified the accuracy of the quantitative analysis of AES when using the revised sensitivity factors by other samples with different composition ratio, and the results showed that the corrected relative sensitivity factors can reduce the error in quantitative analysis of AES to less than 10 %. Peak defining is difficult in the form of the integral spectrum of AES analysis since choosing the starting point and ending point when determining the characteristic auger peak intensity area with great uncertainty, and to make analysis easier, we also processed data in the form of the differential spectrum, made quantitative analysis on the basis of peak to peak height instead of peak area, corrected the relative sensitivity factors, and verified the accura cy of quantitative analysis by the other samples with different composition ratio. The result showed that the analytical error in quantitative analysis of AES reduced to less than 9%. It showed that the accuracy of AES quantitative analysis can be highly im proved by the way of associating XPS with AES to correct the auger sensitivity factors since the matrix effects are taken into ac count. Good consistency was presented, proving the feasibility of this method.

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期刊信息
  • 《光谱学与光谱分析》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国光学学会
  • 主编:高松
  • 地址:北京海淀区魏公村学院南路76号
  • 邮编:100081
  • 邮箱:chngpxygpfx@vip.sina.com
  • 电话:010-62181070
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-0593
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2200/O4
  • 邮发代号:82-68
  • 获奖情况:
  • 1992年北京出版局编辑质量奖,1996年中国科协优秀科技期刊奖,1997-2000获中国科协择优支持基础性高科技学术期刊奖
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国生物医学检索系统,美国科学引文索引(扩展库),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:40642