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RF MEMS开关吸合电压的分析
  • ISSN号:1674-4926
  • 期刊名称:《半导体学报:英文版》
  • 时间:0
  • 分类:TN304[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]东南大学MEMS教育部重点实验室,南京210096
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(批准号:60676043)
中文摘要:

吸合电压是MEMS静电执行器的重要参数,针对RFMEMS开关,详细分析了开关在不同执行方式下的吸合电压.对于执行电压是脉冲方式而言,开关梁受迫振动,不同于准静态方式,此时使开关发生吸合的执行电压为动态吸合电压,计算表明比准静态吸合电压小8%.通过简化的弹性系数和精确的电容计算公式,详细分析了基于CPW的双端固支梁开关的准静态和动态吸合电压.分析了环境阻尼对动态吸合电压的影响,阻尼使得开关的两种吸合电压差别变小.最后分析了射频输入功率对开关吸合电压的影响,射频输入功率会降低吸合电压,如果输入功率足够大,吸合电压将会降为零,此时MEMS开关会发生自执行失效.

英文摘要:

The pull-in voltage of RF MEMS switches at different actuations is presented. When the actuation voltage is a pulse voltage, the movement of the switch beam is in a vibration state rather than quasi-static, so the pull-in voltage is different from the quasi- static condition and is called dynamic pull-in voltage. It is about 92% of the quasi-static pull-in voltage. Following the simple formula of the spring coefficient of a beam and the exact formula of the capacitor for the switch,the quasi-static and dynamic pull-in voltages of the clamped-clamped beam switch on CPW are analyzed, and the damping effect is also included. The damping reduces the difference between the two kinds of pull-in voltages. Finally, the influence of the RF input power on the pull-in voltage is analyzed. The input power decreases the pull-in voltage, reducing the puU-in voltage to zero at a certain power, and then making the switch self-actuate.

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期刊信息
  • 《半导体学报:英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国电子学会 中国科学院半导体研究所
  • 主编:李树深
  • 地址:北京912信箱
  • 邮编:100083
  • 邮箱:cjs@semi.ac.cn
  • 电话:010-82304277
  • 国际标准刊号:ISSN:1674-4926
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5781/TN
  • 邮发代号:2-184
  • 获奖情况:
  • 90年获中科院优秀期刊二等奖,92年获国家科委、中共中央宣传部和国家新闻出版署...,97年国家科委、中共中央中宣传部和国家新出版署三等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:7754