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引线键合工艺参数对封装质量的影响因素分析
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN405.96[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]广东工业大学机电学院,广州510090
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(50475044);教育部科技研究重点项目(2004106);广东省科技攻关项目(2005A10403004)
中文摘要:

分析讨论了封装过程中质量的影响因素与机理,参数间的相互耦合、干扰问题,指出了其对合理设定工艺参数、提高质量和合格率的重要作用。对目前国内外引线键合研究进行较为深入地分析,为进一步研究封装过程多因素影响规律、动态建模和实时监控奠定了基础。

英文摘要:

The quality impact factors and mechanism of the packaging process, the coupling relationship between the parameters, and their disturbance were analyzed and discussed. The important role in reasonably setting parameters, improving quality and yields was pointed out. The researches on the wire bonding domestic and abroad were investigated, it lays a foundation for the further research on multi-impact-factor influenced quality issues, dynamic modeling and real-time monitoring.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070