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一种降低并行ADC非线性误差的电容平均技术
  • ISSN号:0258-7998
  • 期刊名称:《电子技术应用》
  • 时间:0
  • 分类:TM134[电气工程—电工理论与新技术]
  • 作者机构:[1]西南科技大学信息工程学院,四川绵阳621010
  • 相关基金:国家自然科学基金(61105020)
中文摘要:

提出了一种降低并行ADC中比较器失调的电容平均网络。该网络由比较器的输入失调存储电容和平均电容构成。通过理论推导和ADC系统级仿真,当平均电容与输入失调存储电容取值相等时,电容平均网络可以有效抑制70%以上的INL误差和DNL误差。

英文摘要:

This paper presents a circuit design using an integrating capacitance network to reduce offset of comparators in Flash ADC. This network consists of input offset storage capacitors of comparators and averaging capacitors. Through theoretical derivation and ADC system simulation, when the average capacitance and input offset storage capacitance values are equal, the differential non-linearity (DNL) offset and the integral non-linearity(INL) offset are reduced more than 70% by applying this capacitance offset averaging network.

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期刊信息
  • 《电子技术应用》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子信息产业集团有限公司
  • 主办单位:华北计算机系统工程研究所
  • 主编:杨晖
  • 地址:北京市海淀区清华路25号
  • 邮编:100083
  • 邮箱:xinzw@ncse.com.cn
  • 电话:010-66608981 66608982
  • 国际标准刊号:ISSN:0258-7998
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2305/TN
  • 邮发代号:2-889
  • 获奖情况:
  • 国家期刊奖,中文核心期刊奖,中国科技期刊奖,电子精品科技期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:20858