位置：成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
一种低功耗SoC芯片的综合BIST方
  • 期刊名称：计算机工程．32（15）．245-249，2006年8月
  • 时间：0
  • 相关项目：系统芯片SoC外建自测试方法研究
作者： 方祥圣，梁华国，曹先霞
同期刊论文项目
系统芯片SoC外建自测试方法研究
期刊论文 46 会议论文 10
同项目期刊论文
部分向量奇偶位切分的LFSR重新播
多扫描链测试集的分组标准向量压缩法
数据块前向相容标记码的测试数据压缩方法
基于响应分块相容的测试数据编码压缩方案
基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案
一种共前缀码的测试数据压缩方案
一种共游程码的测试数据压缩方案
约束输入精简的多扫描链BIST方案
应用扩展前缀编码的测试数据压缩方案
一种双模互锁的容软错误静态锁存器
基于多扫描链的二次测试数据压缩
基于分组共享种子和位翻转测试数
混合定变长码的测试数据压缩方案
基于部分测试向量切分的LFSR重新
基于多扫描链相容压缩的距离标记
基于响应分块相容的测试数据编码
多扫描链测试集的分组标准向量压
Test data compression scheme b
基于BDD和布尔差分的组合电路测
一种选择折叠计数状态转移的BIST
一种改进型FDR码对SOC测试数据的
基于向量分块级联的LFSR重新播种
分组频率Golomb码测试数据压缩研
基于多扫描链分组列相容的测试数
基于测试向量压缩的多核并行测试
基于连续及非连续块编码的测试数
一种基于测试集分组的广义交替码
基于状态翻转连续长度码的测试数
基于共前缀连续长度码的测试数据
基于多故障模型的并发测试生成方
基于折叠集的低功耗测试
基于折半划分的测试数据压缩方法
一种基于数据预处理的交替与连续
一种多核共享测试数据的BIST方案
部分向量奇偶位切分的LFSR重新播种方法
基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法
改进型FDR码对SoC测试数据的压缩及解压缩
基于多扫描链相容压缩的距离标记压缩方法
一种选择折叠计数状态转移的BIST方案
基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法
基于共前缀连续长度码的测试数据的压缩和解压方法
基于部分相容的动态LFSR重新播种方法
基于连续及非连续块编码的测试数据压缩方法