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中文摘要：
本文研究了强度调制光纤传感器的反射信号检测技术，提出基于直扫描光电二极管阵列(SSPA)取样积分的时域光强检测方法，它具有信号处理简单，有效抑制环境光和电路背景噪声影响的特点．该方法的实施有效地提高了强度调制传感器的测量精度和稳定性。
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