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STG-BASED VERIFICATION AND TEST GENERATION
  • ISSN号:0217-9822
  • 期刊名称:《电子科学学刊:英文版》
  • 分类:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关基金:Supported by the National Natural science Foundation of China(No.69576038)
中文摘要:

This paper presents the techniques of verification and Test Generation(TG) for sequential machines (Finite State Machines, FSMs) based on state traversing of State Transition Graph(STG). The problems of traversing, redundancy and transition fault model are identified. In order to achieve high fault coverage collapsing testing is proposed. Further, the heuristic knowledge for speeding up verification and TG are described.

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期刊信息
  • 《电子科学学刊:英文版》
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学院电子学研究所
  • 主编:朱敏慧
  • 地址:北京2702信箱
  • 邮编:100080
  • 邮箱:jc@mail.ie.ac.cn
  • 电话:010-62551772
  • 国际标准刊号:ISSN:0217-9822
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2003/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,荷兰文摘与引文数据库,英国科学文摘数据库
  • 被引量:73