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基于处理器硅前性能验证平台的基准程序库设计方法
  • ISSN号:1002-0470
  • 期刊名称:《高技术通讯》
  • 时间:0
  • 分类:TP332[自动化与计算机技术—计算机系统结构;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:[1]中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室,北京100190, [2]中国科学院大学,北京100049, [3]龙芯中科技术有限公司,北京100190
  • 相关基金:“核高基”科技重大专项课题(2014ZX01020201),国家自然科学基金(61432016)和863计划(2013AA014301)资助项目.
中文摘要:

提出了一种新的适用于处理器的硅前性能验证平台的基准程序实现方法。方法的主要思想是利用现成的广泛使用的测试程序集合,通过降低工作负载,采用基于基本块的划分、归并方式,将多个基于相同特征点的代码片段作为一个基准检测点,这些抽象的检测点构成了基准程序库。该方法将复杂的处理器内部行为的一致性判断转换为性能的宏观统计分析,充分利用了已有的权威测试基准集,无需重新编写性能验证平台的基准程序,既扩大了验证程序的规模,又节省了大量的劳动,同时可以针对验证样本通过分析系统自动展开验证工作,减少了人工核对的工作量。

英文摘要:

A method to construct a middle scale testbench for processors' performance debug during the pre-silicon verification stage was proposed. This approach makes use of the prevalent processor benchmarks and replaces the complete test with light workloads. The instruction streams are clustered into several checkpoints according to basic block partition and categorization, and all of these checkpoints make up a novel benchmark. This approach converts the complex performance diagnostic method, which is based on waveform observation of the elaborate architecture, to statistical analysis of checkpoints. This method does not require a new medium scale testbench, so extra work and cost can be avoided. Moreover this can prompt automated verification process with less manual inspection.

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期刊信息
  • 《高技术通讯》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中华人民共和国科学科技部
  • 主办单位:中国科学技术信息研究所
  • 主编:赵志耘
  • 地址:北京市三里河路54号
  • 邮编:100045
  • 邮箱:hitech@istic.ac.cn
  • 电话:010-68514060 68598272
  • 国际标准刊号:ISSN:1002-0470
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2770/N
  • 邮发代号:82-516
  • 获奖情况:
  • 《中国科学引文数据》刊源,《中国科技论文统计与分析》刊源
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘
  • 被引量:12178