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基于正反图案的亚像素条纹边缘检测方法
  • 期刊名称：测试技术学报，22(3)：231(235，2008.3
  • 时间：0
  • 相关项目：亚条纹采样密度的编码结构光三维测量理论与技术
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亚条纹采样密度的编码结构光三维测量理论与技术
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