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n-type Polycrystalline Si Thick Films Deposited on SiNx-coated Metallurgical Grade Si Substrates
ISSN号:0861-9786
期刊名称:Journal of Materials Science and Technology
时间:2015
页码:65-69
相关项目:Al2O3薄膜对晶体硅太阳能电池背场钝化机制的研究
作者:
H.L.Zhang|L.Q.Zhu|L.Q.Guo|Y.H.Liu|Q.Wan|
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