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Low-Temperature Solution-Processed Zirconium Oxide Gate Insulators for Thin-Film Transistors
ISSN号:0018-9383
期刊名称:IEEE Transactions on Electron Devices
时间:2013.10.10
页码:3413-3416
相关项目:用于驱动OLED的梯度微晶化微晶硅薄膜及其TFT特性研究
作者:
Li Xifeng|Xin Enlong|Zhang Jianhua|
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