欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
CVD外延生长SiC薄膜的等离子体图形刻蚀研究
期刊名称:固体电子学研究与进展
时间:0
作者或编辑:3448
页码:2001,21(2)
语言:中文
相关项目:新型SiC高温半导体器件关键技术基础研究
作者:
柴常春 杨银堂 李跃进 贾护军 韩健|
同期刊论文项目
新型SiC高温半导体器件关键技术基础研究
期刊论文 2
同项目期刊论文
4H-SiC MOSFET的温度特性研究