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基于共前缀连续长度码的测试数据
  • 期刊名称：微电子学与计算机．24（2）．28-35，2007年2月
  • 时间：0
  • 相关项目：系统芯片SoC外建自测试方法研究
作者： 孙超超，欧阳一鸣，梁华国
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系统芯片SoC外建自测试方法研究
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