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LED热学性能测试方法的研究综述
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN364.2[电子电信—物理电子学] TN305.94[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]上海大学机电工程与自动化学院新型显示及集成应用教育部重点实验室,上海200072
  • 相关基金:十二五国家科技支撑计划(2011BAE01B14); 科技部973计划(2011CB013100); 上海市科委自然科学基金(10ZR1412000)
中文摘要:

LED是21世纪最具发展前景的照明光源之一。散热是限制功率型LED器件广泛应用的主要瓶颈,精确的热学测量则是有效热管理的重要前提。目前对于LED热学性能的测量方法研究主要有红外热成像法、电学参数法、瞬态热测试法、光谱法、光功率法等方法。从LED热学特性及热学参数测试的基本原理出发,综述了国内外关于LED热学性能的测试方法研究,分析比较了各方法测量LED热阻的优缺点,讨论了各自的适用范围。瞬态热测试法由于其测试精度高、可测热结构函数等优点,具有重要的研究价值和良好的应用前景。

英文摘要:

LED is regarded as one of the most challenging lighting source of 21st century.Thermal problem is the most important bottleneck limiting the wide application of high power LED.Accurate thermal measurement is the necessary precondition of effective thermal management.The current worldwide researches on measuring methods of LED's thermal parameters mainly include IR thermography method,electrical test method,transient thermal measuring method,peak shift method and optical power method.Thermal characteristic and principle of thermal measurement of LED are introduced,and the researches of thermal-parameter measuring methods are reviewed.In addition,the application scope,strength and weakness of various measurement approaches are discussed.In consideration of high precision and thermal-structure-function measurement,the transient thermal measuring method is worth studying and has a good prospect in real application.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070