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Employing a Cerenkov detector for thickness measurement of X-ray in scattering background
  • 期刊名称：Chinese Physics C
  • 时间：0
  • 页码：1895-1899
  • 语言：英文
  • 相关项目：高计数率多气隙电阻板室的研制
作者： 李树伟|李元景|康克军|王义|
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