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LED热性能测试技术的机理及研究进展
  • ISSN号:1001-5868
  • 期刊名称:半导体光电
  • 时间:2014.6.15
  • 页码:381-386+496
  • 分类:TN312.8[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]北京市可持续发展科技促进中心,北京100035, [2]华北电力大学低品位能源多相流与传热北京市重点实验室,北京102206
  • 相关基金:北京市科技计划项目(D121100004612005); 自然科学基金与广东省联合基金项目(U1034004); 国家“863”计划项目(2013AA03A113)
  • 相关项目:大功率LED关键热物理问题的基础研究
中文摘要:

热性能参数是衡量LED整体性能优劣的重要指标,对LED的结温、热阻等参数进行精确测试是有效热管理的前提,也是完善LED性能评价标准的必要条件。在充分调研LED热性能测试方法的基础上,对国内外现有的热测试技术进行了介绍,讨论了各方法的测试机理,分析比较了各自的优缺点和适用范围,并简要介绍了相关的测试设备。

英文摘要:

Thermal parameters are key indicators of LED's overall performance.To accurately test the junction temperature and the thermal resistance of LED is a necessary precondition for effective thermal management,as well as for the requirement of improving the evaluation criteria of LED's performance.Based on the research of the measuring methods of LED's thermal performance at present,varieties of domestic and international thermal testing techniques are introduced and the mechanisms of measurement approaches are discussed.Furthermore,relevant parameters of all kinds of methods are compared,such as operating conditions,advantages and disadvantages.Additional,relevant test equipments are introduced.

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期刊信息
  • 《半导体光电》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:信息产业部
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第四十四研究所(重庆光电技术研究所)
  • 主编:江永清
  • 地址:重庆市南岸区南坪花园路14号
  • 邮编:400060
  • 邮箱:soe@163.net
  • 电话:023-65860286
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-5868
  • 国内统一刊号:ISSN:50-1092/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 重庆市首届十佳期刊称号,1999年,信息产业部1999-2000年度优秀电子期刊称号
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:5924