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硼/氢掺杂金刚石薄膜导电特性研究
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN305.3[电子电信—物理电子学] O474[理学—半导体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]山东大学物理与微电子学院,国家晶体材料重点实验室,济南250100
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(10374060);山东省自然科学基金资助项目(Y2003A01) 感谢中科院半导体所在离子注入实验及霍尔和电导测量方面提供的帮助.
中文摘要:

金刚石是非常理想的功能器件材料,由于室温下金刚石缺少浅施主态,己成为金刚石作为电子器件材料的主要障碍之一。最近报道显示,硼掺杂同质外延金刚石层暴露在氘离子束中能形成浅施主态的n型电导。研究了CVD合成类Ib型金刚石薄膜,通过硼、氢离子注入掺杂及退火温度对金刚石薄膜导电特性的影响。

英文摘要:

Diamond is a kind of ideal material of functional apparatus. The absence of a shallow donor in diamond with reasonably room temperature was one of the key obstacles for making diamond-based semiconductor devices. Recent report showed that exposure of p-type (B doped) homoepitaxial diamond layers to deuterium plasma can form n-type diamond with a shallow donor state. The effects of B and H ion injection and changing anneal temperature on the conductivity of diamond film ( I b) by CVD were investigated.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070