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中文摘要：
采用定量结构性质相关（QSPR）方法，利用SEDs（Steric and Electronic Descriptors）建立了预测GC—RRT，Kow和Sw的QSPR模型，进行了交叉验证（包括Leave-one—out方法和Leave—more—out方法），并且对缺乏性质数据的PCBs进行了预测．
英文摘要：
Based on the quantitative structure property relationship（QSPR） approach, this article modeled the GC-RRT,Kow and Sw applying SEDs（steric and electronic descriptors）, which consider the molecular size, shape, symmetry,charge and topological index, and validated these models using cross-validation （including Leave-one-out approach and Leave-more-out approach）. Also, the other PCBs＇GC-RRT, Kow and Sw were predicted.
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