中文摘要：

传统的应用于光谱测量和光源单色化技术的X光色散元件（晶体、多层膜和衍射光栅）均表现出多级衍射的特征。这一特征为其应用带来了重要困扰光谱测量过程中，X光色散元件的各级衍射谱彼此叠加在一起，致使光谱仪的测量谱不能直接反映测量对象的发射谱；光源单色化技术应用中，依照布拉格方程（应用于晶体和多层膜）或光栅方程（应用于衍射光栅），波长为整数倍的光束的不同衍射级次将不可避免地衍射到同一个方向，致使这些光束无法分开。本项研究中，我们探索、研究了具有单级衍射特征的新型X光色散元件软X光谱学光子筛的设计和制作方法，通过在金薄膜上准随机排列大量针孔，研制成功国际上首片达实用水平的高线密度、自支撑X光单级衍射光栅，为X光光谱分析和X光束单色化技术带来了新的机遇。利用新研制的软X光谱学光子筛，制作了排除高级衍射干扰的新型X光谱仪，应用于惯性约束聚变研究激光等离子体软X光谱测量。与传统的X光透射光栅谱仪相比，新谱仪获得的测量数据更为直观和准确。