中文摘要：

高反射率反射镜的广泛应用和高反膜性能的不断提高，使高反射率准确测量的需求日益迫切。而传统的基于分光光度和比值法的反射率测量技术无法准确测量反射率高于99.99%的高反射薄膜元件。实验建立了基于连续半导体激光器自混合效应的光腔衰荡技术高反射率测量实验装置，讨论了直腔和折叠腔不同反馈光强度和频谱特征时，自混合效应对半导体激光器输出频谱和功率的影响，对比分析了直腔和折叠腔输出信号中共振尖峰的形成机理、幅值及时域特性。实验测量了1064nm波长高反镜反射率，分析了自混合光腔衰荡技术用于高反射率测量的重复性测量精度。利用Labview虚拟仪器软件编写了实验系统的计算机控制程序，实现了高反射率测量系统的计算机控制和数据采集处理自动化。分析了在利用该装置测量大口径光学元件反射率时，样品自动扫描过程中的角度失调对测量结果的影响。利用本项目积累的光腔衰荡技术理论和实验条件，开展了光学元件消光系数的测量实验以及痕量气体检测实验研究，并取得了较好的测量结果。