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中文摘要：
本项目将以扫描探针显微技术(STM、AFM、MEM、SNOM)为主要手段，结合光谱技术，针对纳米材料和纳米器件这一纳米科技的前沿和热点问题，从纳米尺度上研究导电聚合物薄膜的结构与发光、导电性能以及结构与性能的关系；从微观角度探讨高分子结构、成膜条件、基底/界面性质、掺杂等对薄膜性能的影响，总结其规律；发展基于扫描探针显微技术的对聚合物薄膜结构和性能进行综合表征的技术。本项研究对进一步理解导电聚合物薄膜结构与性能的关系以及导电聚合物薄膜的发光机理有重要意义，同时可以对聚合物器件的研究起到支持和促进作用。
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