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　面向RFIC的集成电路测试技术研究
  • 项目名称：　面向RFIC的集成电路测试技术研究
  • 批准号：ICT-ARCH201001
  • 项目来源：2010年度计算机体系结构国家重点实验室开放课题
  • 研究期限：2010-12-
  • 项目负责人：孙玲
  • 依托单位：南通大学
  • 批准年度：2010
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 1
  • 0
  • 0
  • 0
  • 0
期刊论文
基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案
孙玲的项目
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期刊论文 4 会议论文 4
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