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用RAMAN显微术研究半导体材料和器件的微区特性
  • 项目名称：用RAMAN显微术研究半导体材料和器件的微区特性
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：69476037
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：张树霖
  • 依托单位：北京大学
  • 批准年度：1994
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
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期刊论文
Raman spectra of SiC nano- rods with different excitation wavelengths
张树霖的项目
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期刊论文 1
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