欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
立项数据库
> 立项详情页
面向高安全等级密码芯片的侧信道分析方法与测评技术研究
项目名称:面向高安全等级密码芯片的侧信道分析方法与测评技术研究
项目类别:面上项目
批准号:61472416
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:周永彬
依托单位:中国科学院信息工程研究所
批准年度:2014
周永彬的项目
密码系统的信息泄漏分析方法与防护机制研究
期刊论文 2
弹性泄漏基础密码方案的构造与分析
能量分析攻击、防御及测评的理论方法与关键技术研究
期刊论文 1
专利 2