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高速高密度互连封装的电源完整性与可靠性分析
  • 项目名称:高速高密度互连封装的电源完整性与可靠性分析
  • 项目类别:面上项目
  • 批准号:60871072
  • 申请代码:F010501
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2009-01-01-2011-12-31
  • 项目负责人:李玉山
  • 负责人职称:教授
  • 依托单位:西安电子科技大学
  • 批准年度:2008
中文摘要:

高速高密度互连封装的电源完整性(PI)是电路设计的基础课题。同时,它又牵动着信号完整性(SI)、数据完整性(DI)和电磁完整性(EMI)的优或劣。传统的电源分配系统(PDS)分析设计技术暴露出了不少缺陷。对此,本项目拟以印刷电路板(PCB)为主剖析对象,从PDS电荷分配与交换机理切入,提出基于电荷守恒的时域分析技术。进一步,通过探究PDS波动与噪声机制,揭示PI与SI/DI/EMI的互动脉络。以非理想互连PI与SI/DI/EMI关联建模为切入点,引领分析并引导设计。此外,本项目拟解构高速互连封装中PI与可靠性的多层次多变量耦合度。凭借已有电子设计自动化(EDA)的研发积累,提出对潜在不可靠因素的快速诊断和自动审查技术,实现部分面向可靠性的电子设计。本项目立足于PI机理及外延关联分析,面向互连设计,具有理论及实用价值,成果可用于高速芯片、PCB及系统的分析与设计。


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 28
  • 3
  • 0
  • 0
  • 4
期刊论文
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