基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究-东篱科研大数据发现系统（DRDS）

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基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究

项目名称：基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
项目类别：重大研究计划
批准号：90407009
申请代码：F040206
项目来源：国家自然科学基金
研究期限：2005-01-01-2007-12-31

项目负责人：胡晨
负责人职称：教授
依托单位：东南大学
批准年度：2004

中文摘要：

中文主题词：测试压缩；逻辑内建自测试；At-speed；结构测试

英文摘要：

Test Compression; LBIST; At-sp

英文主题词： Test Compression; LBIST; At-sp

结论摘要：

本项目针对未来系统芯片（SoC）测试成本非线性增加的严重挑战，提出了测试压缩率极高的Multi-capture（MC）测试，减小了测试数据传输对测试带宽的需求；结合局部扫描的测试算法，使之具备At-speed结构测试的能力。解决测试成本增加的另一有效途径是逻辑内建自测试（LBIST），本课题拟从高层测试综合的角度解决LBIST的故障覆盖率过低的问题；同样结合局部扫描测试算法，使得LBIST具备At-speed测试的能力。本课题还将研究系统级整合MC测试和LBIST的相关问题包括测试接入、双测试时钟和测试调度。最后本课题将以Garfield为平台验证提出的算法、结构和测试方案。

成果综合统计