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背照式CMOS图像传感器像素结构的累积辐射效应与机理研究
  • 项目名称：背照式CMOS图像传感器像素结构的累积辐射效应与机理研究
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：11675259
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：李豫东
  • 依托单位：中国科学院新疆理化技术研究所
  • 批准年度：2016
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 1
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期刊论文
基于X射线的晶圆级器件辐照与辐射效应参数提取设备的设计与实现
李豫东的项目
基于像素单元的CMOS图像传感器辐射损伤机理研究
期刊论文 16