中文摘要：

托卡马克等离子体在破裂阶段将产生大量的逃逸电子，如果逃逸电子局域地损失到第一壁材料上，第一壁材料将受到逃逸电子的严重损伤，从而影响了装置的寿命和安全运行；特别是对于国际热核聚变实验堆ITER来说，破裂对装置的损伤更为严重。因此破裂条件下逃逸电子行为的研究以及如何缓解破裂条件下逃逸电子对装置的损害成为ITER研究的重要课题之一。在EAST托卡马克上利用红外相机和硬X射线相机诊断测量等离子体芯部逃逸电子的同步辐射和超热电子的轫致辐射，并结合逃逸电子能谱诊断以及其他的相关诊断深入开展托卡马克等离子体破裂条件下逃逸电子动力学的研究。通过研究低杂波电流驱动下等离子体破裂阶段芯部逃逸电子束的行为，逃逸电子的径向分布和输运，探索逃逸电子束的主动控制方法，开展使用低杂波驱动逃逸电流缓解托卡马克等离子体破裂的实验研究；为EAST的安全运行提供保障，为ITER的破裂缓解实验提供相关的数据积累。