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状态模型切片及测试技术研究
  • 项目名称：状态模型切片及测试技术研究
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：61472025
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：李征
  • 依托单位：北京化工大学
  • 批准年度：2014
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 6
  • 0
  • 0
  • 0
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期刊论文
面向CPU+GPU异构计算的多目标测试用例优先排序
基于全同步对覆盖的线程调度序列生成方法
基于并发程序数据竞争故障的变异策略
基于线性权重最优支配的高维多目标优化算法
基于动态集合进化算法的弱变异测试用例集生成
工业软件现场测试中的拆分及其测试数据设计
李征的项目
基于GPGPU的软件回归测试用例多目标预优化
期刊论文 22 会议论文 12 获奖 2
新型状态模型切片关键技术研究
期刊论文 11 会议论文 3