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IEEE第十二届亚洲测试学术会议
  • 项目名称：IEEE第十二届亚洲测试学术会议
  • 项目类别：国际(地区)合作与交流项目
  • 批准号：60310306236
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：李晓维
  • 依托单位：中国科学院计算技术研究所
  • 批准年度：2003
李晓维的项目
数字VLSI电路测试技术研究
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基于硅通孔的三维集成电路故障诊断
期刊论文 3
IEEE第四届寄存器传输与高层测试学术研讨会
集成电路安全隐患检测的理论与方法
期刊论文 5
多芯核共享的测试响应数据压缩方法研究
期刊论文 15 会议论文 3
从行为级到版图级的设计验证与测试生成
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片上系统测试架构设计与优化 针对噪声引起的测试良产率下降的研究
期刊论文 6
内置自测试自动综合技术的研究
期刊论文 6 会议论文 1
微处理器自修复设计基础技术研究
期刊论文 4 会议论文 5 获奖 2