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铁电-宽禁带半导体薄膜的外延集成、界面极化耦合效应与高迁移率晶体管器件研究
  • 项目名称：铁电-宽禁带半导体薄膜的外延集成、界面极化耦合效应与高迁移率晶体管器件研究
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：51572280
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：李效民
  • 依托单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 批准年度：2015
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