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电子产品性能退化试验与故障趋势预测研究
  • 项目名称：电子产品性能退化试验与故障趋势预测研究
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：61271153
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：蔡金燕
  • 依托单位：中国人民解放军军械工程学院
  • 批准年度：2012
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 35
  • 0
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期刊论文
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双应力交叉步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真
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蔡金燕的项目
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