电子背散射衍射(EBSD)技术已广泛应用于材料微区晶体结构及取向的研究,提高该技术对晶体取向测定的角分辨率对于许多材料低应变行为的表征具有重要的意义。本项目研究的主要目的是改进用商业化系统采集的EBSD数据进行晶体取向及取向差测定的角度分辨率。该研究主要从两个方面进行一方面将针对标准电子背散射衍射(EBSD)取向成像图方法。改进取向噪声函数的表征,并运用由此得到的信息改善后处理过滤器,从而提高EBSD的角度分辨率。另一方面是用现有的硬件进行EBSD花样数据采集,但是利用全新的软件分析工具进行取向差异的精确标定和分析,目标是将分辨率提高到0.1 。