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中文摘要：
我们自行设计并加工了进行原位磁光效应测量需要的磁场控制系统；设计搭建了进行原位磁光效应测量光路系统；实现了磁场控制系统与分子束外延系统的对接；进行了半金属和铁磁金属等薄膜分子束外延生长过程中的原位磁光效应测量，原位实时地了解了生长温度和薄膜厚度等生长参数对磁性质的影响；结合掠入射X-射线衍射、高分辨透射电镜、磁光测量系统和超导量子干涉仪等非原位测试技术进行了半金属薄膜和铁磁金属薄膜的结构和磁性能表征。该系统对于生长优质半金属铁磁体和铁磁金属薄膜具有重要意义。
结论摘要：
英文主题词Semiconductor spintronics; Half-metallic magnets; In situ magneto-optical effect; Molecular-beam epitaxy
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