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针对数字集成电路中软错误与老化的协同防护
项目名称:针对数字集成电路中软错误与老化的协同防护
项目类别:青年科学基金项目
批准号:61404001
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:徐辉
依托单位:安徽理工大学
批准年度:2014
成果综合统计
成果类型
数量
期刊论文
会议论文
专利
获奖
著作
3
0
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0
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期刊论文
考虑NBTI的动态休眠管尺寸电源门控设计
一种容软错误的可编程老化预测传感器
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