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高可靠嵌入式系统电源功率模块劣化过程的非线性时变行为研究
  • 项目名称:高可靠嵌入式系统电源功率模块劣化过程的非线性时变行为研究
  • 项目类别:青年科学基金项目
  • 批准号:61202027
  • 申请代码:F020308
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2013-01-01-2015-12-31
  • 项目负责人:吴立锋
  • 依托单位:首都师范大学
  • 批准年度:2012
中文摘要:

高可靠嵌入式系统广泛应用于航天、核电、高铁等关系国家战略与安全的领域中,其电源的可靠性直接影响系统的安全性,并成为电子信息和能源学科的研究热点。在影响电源可靠性的关键因素中,功率模块劣化占据主导地位,如何在运行中动态获取功率模块的劣化状态、预测剩余使用寿命已成为研究的焦点。因此,本研究拟建立功率模块劣化过程的非线性时变行为模型,基于时变状态方程解不稳定性的泛函理论探讨劣化动态演变过程,改传统劣化分析的结构性、统计性建模方式为行为性、解析性建模方式;提出基于Volterra级数的非侵入式功率模块劣化状态在线获取方法,以驱动信号为非侵入式激励,用Volterra级数频域核抽取劣化特征,变劣化状态在线不可测为可测;在此基础上,提出功率模块剩余使用寿命的动态预测算法,改传统离线统计分析为在线预测。为高可靠嵌入式系统电源健康状态预测与智能管理奠定理论基础,为提高其可靠性、可维护性提供新思路和新方法。

结论摘要:

英文主题词Embedded system;Power modules;Degradation;Volterra;Remaining useful life


成果综合统计
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