中文摘要：

随着电磁环境日益复杂，电磁屏蔽性能已成为电子产品一项重要的技术指标。项目通过机械结构电磁泄漏机理研究，揭示机械结构对屏蔽性能的影响规律，建立电磁耦合通道屏蔽特性的时域有限元计算方法；通过屏蔽细节和近场干扰源时域等效建模方法及模型界面技术研究，建立电子产品整机电磁屏蔽建模方法；基于电磁拓扑理论和图论，提出电子产品整机屏蔽性能的系统级分析方法。项目研究有望解决屏蔽细节等效建模、近场干扰源等效建模以及基于数值计算的电子机械屏蔽特性电磁拓扑分析方法等关键技术。研究成果能对电子产品的电磁屏蔽设计提供方法和理论指导，在民用和军事领域均具有明确的应用前景。

结论摘要：

随着电磁环境日益复杂，电磁屏蔽性能已成为电子产品一项重要的设计指标。项目以电子设备为对象，研究设备电磁屏蔽特性的计算、分析与设计方法。基于电磁场孔缝散射和耦合理论，研究了腔体结构电磁耦合通道的电磁泄漏机理，探索了各种结构因素对电磁屏蔽性能的影响规律；基于波导隔膜模型与传输线理论，建立了带孔缝腔体屏蔽效能的解析计算方法，并对现有方法进行了扩展研究；建立了电磁泄漏通道电磁屏蔽特性的控制方程，形成了基于时域有限元法（FETD）的有限元算式及数值方法；研究了腔体结构的电磁谐振机理，提出了基于缝隙天线阻抗的腔体谐振频率计算方法和电磁谐振模式预测方法；提出了基于小孔尺寸效应的孔阵等效建模方法，为具有复杂孔阵跨尺度腔体建模提供了简化途径；利用磁偶极子阵列和电偶极子阵列，提出了PCB板的等效建模方法，为内部干扰源分析提供了有效手段；基于电磁拓扑理论和等效电路法，建立了基于BLT方程的带孔缝单层腔体和多层腔体的屏蔽效能计算方法，以及腔体内传输线负载和PCB板的电磁干扰计算方法，为设备整机复杂电磁屏蔽分析提供了有效途径。项目成果可为电子设备电磁屏蔽性能的预测、分析提供解析和数值计算方法，能为电子设备电磁屏蔽设计提供理论支撑和方法指导。项目已发表SCI期刊论文7篇（另外已录用2篇），EI期刊论文4篇，国际学术会议论文5篇，申请发明专利2项。培养博士研究生4名（2名在读），其中与University of Illinois at Urbana-Champaign、University of British Columbia 和University of Colorado at Boulder联合培养3名；培养硕士研究生6名（在读2名），其中获国家奖学金1名，电子科技大学优秀硕士论文2名。