欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
立项数据库
> 立项详情页
基于双回转相位板的复杂面形拼接测量理论与方法
项目名称:基于双回转相位板的复杂面形拼接测量理论与方法
项目类别:面上项目
批准号:51375488
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:陈善勇
依托单位:中国人民解放军国防科学技术大学
批准年度:2013
陈善勇的项目
光学镜面高精度高分辨率干涉测量方法与关键技术研究
期刊论文 9
会议论文 3
专利 3