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深紫外激光自旋分辨角分辨光电子能谱对Bi2Se3系列拓扑绝缘体薄膜的自旋电子结构研究及其自旋光控调制
  • 项目名称：深紫外激光自旋分辨角分辨光电子能谱对Bi2Se3系列拓扑绝缘体薄膜的自旋电子结构研究及其自旋光控调制
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：11374338
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：何少龙
  • 依托单位：中国科学院物理研究所
  • 批准年度：2013
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