中文摘要：

本课题应用软X射线磁性线二色吸收谱实验技术研究铁膜在半导体表面的磁特性。作为磁电友У难芯康悖現e/GaAs体系是一个很好的模型。但对于bcc铁存在单轴磁各向异性还没有明返奈锢砘啤Ｍü芯肯Ｍ钊肓私釬e膜的磁各向异性的微观起源。另一方面，该技术的ⅲ岷先鞽射线磁性圆二色吸收谱，为深入了解铁磁和反铁磁构成的复杂体系提供实验手段。

结论摘要：

通过本基金的支持，在国家同步辐射实验室XMCD实验站建立了XMLD的实验手段。利用与超高真空兼容的空心线圈，可以在距离线圈端面20mm处产生120Gs的脉冲磁场，脉冲宽度120ms，磁场方向垂直与入射光的偏振方向，另一方向的磁化利用了磁性圆二色的外磁场；以Labview5.1为开发平台，编写了XMLD的束线控制与数据采集程序；实验表明，在有外磁场存在的情况下，探测方式以样品电流法更有效。利用MBE和电化学在GaAs（100）衬底上外延了铁膜。对MBE法低于1.5nm的铁膜没有测得明显的铁磁性；对5nm的铁膜有一定的磁各向异性，但没有获得XMLD信号。经过对XMLD的研究，申请人认为在合肥光源目前的条件下，开展这方面的工作有诸多困难。主要表现在 - - 光子通量过低，导致低信噪比 - - 目前设备改造的余地不大，难以产生垂直于偏振方向的"静"磁场