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用晶界取向理论指导高质量铁硅半导体膜的离子
项目名称:用晶界取向理论指导高质量铁硅半导体膜的离子
项目类别:面上项目
批准号:59872007
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:董闯
依托单位:大连理工大学
批准年度:1998
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