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电磁脉冲对微电子器件及设备的作用机理与防护基础研究
  • 项目名称:电磁脉冲对微电子器件及设备的作用机理与防护基础研究
  • 项目类别:重点项目
  • 批准号:50237040
  • 申请代码:E07
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2003-01-01-2006-12-31
  • 项目负责人:刘尚合
  • 负责人职称:教授
  • 依托单位:中国人民解放军军械工程学院
  • 批准年度:2002
中文摘要:

建立雷电和静电放电电磁场数理模型,给出时空分布规律;研究脉冲电磁场模拟方法和DC—1GHz的测试系统;研究电磁脉冲对微电子器件及设备的能量耦合规律、注入与辐射的相关性以及微电子器件潜在性失效的微观机制和防护技术,提出微电子器件及设备抗电磁脉冲的设计方法,以提高电子产品抗电磁脉冲的能力,满足经济发展和国防建设的急需。

结论摘要:

该项目针对国际上雷电电磁场理论模型、静电放电辐射场等模型存在的问题,建立了雷电和静电辐射场新模型,研究了雷电、静电放电电磁脉冲场时空分布规律,并被实验证实,提出了雷电电磁脉冲场模拟方法、新的静电放电实验方法,首次研制成功雷电电磁脉冲场与核电磁脉冲场综合模拟系统和新的静电放电抗扰度实验平台,为微电子器件及设备电磁环境效应研究提供了新手段。提出了天线高阻耦合、直接电光调制原理,研制了宽带脉冲电场测试系统。系统研究了典型电子设备部件、组件和分系统的电磁环境效应,确定了能量耦合途径和作用机理。提出了电磁脉冲效应评估和防护方法,出版《静电放电及危害防护》等专著5部。研究成果整体达到国际先进水平,获国防发明专利2项,相关博士论文被评为全国优秀博士学位论文。该项目的研究成果已应用于远程火箭弹、云爆弹、弹上计算机、DF-31A战略导弹等装备和我国载人航天工程的静电和电磁安全性评估,针对发现的问题进行了防护加固,提高了武器系统和相关工程的抗电磁危害能力,取得了重大的军事效益和社会效益。


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 123
  • 69
  • 0
  • 12
  • 5
期刊论文
会议论文
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