位置:立项数据库 > 立项详情页
材料陷阱对真空中绝缘子沿面闪络影响的研究
  • 项目名称:材料陷阱对真空中绝缘子沿面闪络影响的研究
  • 项目类别:青年科学基金项目
  • 批准号:50107002
  • 申请代码:E0708
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2002-01-01-2004-12-01
  • 项目负责人:丁立健
  • 负责人职称:教授
  • 依托单位:华北电力大学
  • 批准年度:2001
中文摘要:

本项目致力于绝缘材料中的陷阶分布及其对真空中绝缘子沿面闪络影响规律的研究,在此基础上建立基于陷阱分布的评价真空中绝缘材料沿面闪络特性的新体系,同时进步探索真空中绝缘子沿面闪络的机制。本项目的完成将对国内外真空中绝缘子治面闪络现象这一研究领域产生积极深远的影响。

结论摘要:

英文主题词Alumina;trap distribution;falshover; surface charging; vacuum


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 7
  • 0
  • 0
  • 0
  • 0
相关项目
丁立健的项目