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图的谱方法及其在纳米尺度集成电路分析优化中的应用
  • 项目名称：图的谱方法及其在纳米尺度集成电路分析优化中的应用
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：61474026
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：杨帆
  • 依托单位：复旦大学
  • 批准年度：2014
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 1
  • 0
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期刊论文
无向图的层次化谱分析同构判定算法
杨帆的项目
集成电路分析中的非线性模型降阶方法研究
期刊论文 22 会议论文 2 获奖 1 专利 1