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用于光脉冲检测的埋藏有金属微粒的半导体薄膜
  • 项目名称：用于光脉冲检测的埋藏有金属微粒的半导体薄膜
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：68871017
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：吴全德
  • 依托单位：北京大学
  • 批准年度：1988
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