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系统芯片SoC内建式自测试的研究与开发
项目名称:系统芯片SoC内建式自测试的研究与开发
项目类别:专项基金项目
批准号:60444001
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:梁华国
依托单位:合肥工业大学
批准年度:2004
成果综合统计
成果类型
数量
期刊论文
会议论文
专利
获奖
著作
3
0
0
0
0
期刊论文
机载氧气监控器自动化测试系统
一种选择折叠计数状态转移的BIST方案
面向环境监测的无线传感器网络节点的分析与设计
梁华国的项目
基于TSV测试与容错的3D芯片良率提升方法研究
期刊论文 4
控制器的内建自恢复与内建自测试研究
期刊论文 85
会议论文 26
获奖 2
专利 5
基于老化特征的集成电路失效预测与防护
期刊论文 41
系统芯片SoC外建自测试方法研究
期刊论文 46
会议论文 10