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系统芯片中时延测试及定时分析的层次化方法
项目名称:系统芯片中时延测试及定时分析的层次化方法
项目类别:专项基金项目
批准号:60242001
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:李华伟
依托单位:中国科学院计算技术研究所
批准年度:2002
成果综合统计
成果类型
数量
期刊论文
会议论文
专利
获奖
著作
4
0
0
0
0
期刊论文
集成电路高层故障模型间关系分析方法
RTL和门级结合的处理器时延测试产生方法
李华伟的项目
考虑集成电路时延变异性的硅后定时验证方法
期刊论文 19
会议论文 14
避免过度测试的时延测试生成方法
期刊论文 28
会议论文 18
专利 4
差错容忍计算器件基础理论与方法
期刊论文 12
面向串扰的时延测试
期刊论文 19
会议论文 13
专利 3